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當前位置：首頁產品中心三維X射線顯微鏡（XRM）D8 X射線衍射儀D8 X射線衍射儀

D8 X射線衍射儀
產品簡介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。

產品型號：
更新時間：2025-03-19
廠商性質：代理商
訪問量：3581
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　　產品：布魯克D8達芬奇X射線衍射儀
 
　　型號：D8 Advance
 
　　產地：德國
 
　　布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
 
　　高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!
 
　　*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
 
　　技術指標:
 
　　Theta/theta 立式測角儀
 
　　2Theta角度范圍:-110～168°
 
　　角度精度:0.0001度
 
　　Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管
 
　　探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
 
　　儀器尺寸:1868x1300x1135mm
 
　　重量:770kg
 
　　主要應用
 
　　1、物相定性分析
 
　　2、結晶度及非晶相含量分析
 
　　3、結構精修及解析
 
　　4、物相定量分析
 
　　5、點陣參數精確測量
 
　　6、無標樣定量分析
 
　　7、微觀應變分析
 
　　8、晶粒尺寸分析
 
　　9、原位分析
 
　　10、殘余應力
 
　　11、低角度介孔材料測量
 
　　12、織構及ODF分析
 
　　13、薄膜掠入射
 
　　14、薄膜反射率測量
 
　　15、小角散射
 
 

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